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Product Category絕緣材料體積表面電阻率測(cè)量?jī)x直讀既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕 準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內(nèi)測(cè)量范圍Z寬,準(zhǔn)確 度Z高數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。機(jī)內(nèi)測(cè)試電壓為 10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可調(diào)。
固體液體粉末絕緣材料體積率表面電阻率測(cè)試儀*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。 本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。
固體液體粉末絕緣材料表面電阻率測(cè)量?jī)x*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。 本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。
絕緣材料體積表面電阻率測(cè)量?jī)x*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。 本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。
固體液體粉末絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。 本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。
尼龍絕緣材料體積表面電阻率測(cè)定儀*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。$n$n本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。
地毯織物絕緣材料體積表面電阻率測(cè)試儀既可測(cè)量高電阻,又可測(cè)微電流。采用了美國In公司的大規(guī)模集成電路,使儀器體積小、重量輕 準(zhǔn)確度高。數(shù)字液晶直接顯示電阻值和電流。量限從1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前國內(nèi)測(cè)量范圍Z寬,準(zhǔn)確 度Z高的數(shù)字超高阻測(cè)量?jī)x。電流測(cè)量范圍為2×10-4 ~1×10-16A。
膏體絕緣材料體積表面電阻率測(cè)定儀*符合標(biāo)準(zhǔn)GB1410-2006固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法,ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法 等標(biāo)準(zhǔn)要求。 本儀器配不同的測(cè)量電(夾具)可以測(cè)量不同材料(固體、粉體或液體)的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率。適用于橡膠、塑料、薄膜、及粉體、液體、及固體和膏體形狀的各種絕緣材料體積和表面電阻值的測(cè)定。
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